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Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口，主管部门为中国有色金属工业协会。
主要起草单位昆明贵金属研究所。
标准号：GB/T 17473.1-1998发布日期：1998-08-19实施日期：1999-03-01废止日期：2008-09-01标准类别：方法中国标准分类号：H15国际标准分类号：77.040.01 归口单位：全国有色金属标准化技术委员会执行单位：全国有色金属标准化技术委员会主管部门：中国有色金属工业协会
昆明贵金属研究所
GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定GB/T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定GB/T 17473.7-2022 微电子技术用贵金属浆料测试方法 第7部分：可焊性、耐焊性测定GB/T 17472-2022 微电子技术用贵金属浆料规范SJ/T 10454-1993 厚膜混和集成电路多层布线用介质浆料SJ/T 10455-1993 厚膜混合集成电路用铜导体浆料
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微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
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数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
立场
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
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