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Specification for establishing a wafer coordinatesystem
国家标准《确定晶片坐标系规范》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位中国有色金属工业总公司。
标准号：GB/T 16596-1996发布日期：1996-11-04实施日期：1997-04-01废止日期：2020-02-01标准类别：方法中国标准分类号：H21国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委
本标准等效采用其他国际标准：SEMI M20:1992。采标中文名称:。
中国有色金属工业总公司
GB/T 16596-2019 确定晶片坐标系规范20250721-T-609 金刚石多晶片20250748-T-609 金刚石单晶片20194111-T-339 声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法GB/T 28584-2012 城市坐标系统建设规范YS/T 986-2014 晶片正面系列字母数字标志规范GB/T 16595-2019 晶片通用网格规范20231113-T-469 半导体晶片直径测试方法20231108-T-469 碳化硅单晶片微管密度测试方法20241911-T-469 太阳能电池用硅单晶及硅单晶片
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CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
立场
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
CMA检测资质
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独立公正立场
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