GB/T 42968.4-2024《集成电路电磁抗扰度测量第4部分：射频功率直接注入法》

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 4: Direct RF power injection method

国家标准《集成电路电磁抗扰度测量第4部分：射频功率直接注入法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子技术标准化研究院、南京容测检测技术有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、江苏省质量和标准化研究院、上海市计量测试技术研究院、苏州菲利波电磁技术有限公司、安徽省计量科学研究院、中国信息通信研究院、深圳市铨兴科技有限公司、重庆邮电大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、东莞职业技术学院、上海精密计量测试研究所。

主要起草人张强、崔强、沈学其、乔彦彬、方文啸、吴建飞、刘小军、王少启、付君、杨博、李金龙、崔培宾、廉鹏飞、史锁兰、黄旭彪、张红升、刘洋、鲍晶晶。

基础信息

标准号：GB/T 42968.4-2024发布日期：2024-12-31实施日期：2024-12-31标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-4:2006。采标中文名称:集成电路电磁抗扰度测量150kHz-1GHz第4部分：射频功率直接注入法。

起草单位

中国电子技术标准化研究院深圳市北测标准技术服务有限公司工业和信息化部电子第五研究所江苏省质量和标准化研究院苏州菲利波电磁技术有限公司中国信息通信研究院重庆邮电大学东莞职业技术学院南京容测检测技术有限公司北京智芯微电子科技有限公司天津先进技术研究院上海市计量测试技术研究院安徽省计量科学研究院深圳市铨兴科技有限公司重庆仕益产品质量检测有限责任公司上海精密计量测试研究所

起草人

张强崔强方文啸吴建飞付君杨博廉鹏飞史锁兰刘洋鲍晶晶沈学其乔彦彬刘小军王少启李金龙崔培宾黄旭彪张红升

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