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Optics and photonics—Microlens arrays—Part 4: Test methods for geometrical properties
国家标准《光学和光子学 微透镜阵列 第4部分:几何特性测试方法》由TC103(全国光学和光子学标准化技术委员会)归口,TC103SC6(全国光学和光子学标准化技术委员会电子光学系统分会)执行,主管部门为中国机械工业联合会。
主要起草单位西安应用光学研究所、中国科学院重庆绿色智能技术研究院、西南技术物理研究所、中国兵器工业标准化研究所、广东欧谱曼迪科技股份有限公司、浙江伟星光学股份有限公司、艾普光学科技(厦门)有限公司、深圳市东正光学技术股份有限公司、浙江水晶光电科技股份有限公司、固高科技股份有限公司。
主要起草人彭富伦 、张为国 、叶大华 、孟银霞 、任均宇 、孟凡萍 、汪巘松 、吴建斌 、曹毓 、金利剑 、李泽源 、土克旭 。
标准号:GB/T 41869.4-2024发布日期:2024-11-28实施日期:2025-03-01标准类别:基础中国标准分类号:L51国际标准分类号:31.260 归口单位:全国光学和光子学标准化技术委员会执行单位:全国光学和光子学标准化技术委员会电子光学系统分会主管部门:中国机械工业联合会
本标准修改采用ISO国际标准:ISO 14880-4:2006。采标中文名称:光学和光子学 微透镜阵列 第4部分:几何特性测试方法。
西安应用光学研究所西南技术物理研究所广东欧谱曼迪科技股份有限公司艾普光学科技(厦门)有限公司浙江水晶光电科技股份有限公司中国科学院重庆绿色智能技术研究院中国兵器工业标准化研究所浙江伟星光学股份有限公司深圳市东正光学技术股份有限公司固高科技股份有限公司
彭富伦张为国任均宇孟凡萍曹毓金利剑叶大华孟银霞汪巘松吴建斌李泽源土克旭
GB/T 41869.3-2024 光学和光子学 微透镜阵列 第3部分:光学特性测试方法GB/T 41869.2-2022 光学和光子学 微透镜阵列 第2部分:波前像差的测试方法GB/T 41869.1-2022 光学和光子学 微透镜阵列 第1部分:术语20242756-T-604 光学和光子学 光学元件 复杂曲面光学元件几何参数测试方法20242308-T-604 光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法GB/T 26332.2-2015 光学和光子学光学薄膜第2部分:光学特性GB/T 26332.4-2015 光学和光子学光学薄膜第4部分:规定的试验方法20250984-T-604 光学和光子学 光学元件 声光材料超声衰减系数测试方法GB/T 12085.4-2022 光学和光子学环境试验方法 第4部分:盐雾20250924-T-604 光学和光子学 i线玻璃
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