GB/T 43682-2024《纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》

Nanotechnology—Measurement methods for carrier mobility and sheet resistance of graphene films of sub-nanometer thickness

国家标准《纳米技术亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。

主要起草单位泰州巨纳新能源有限公司、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、上海巨纳科技有限公司、烯旺新材料科技股份有限公司、厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司、泰州飞荣达新材料科技有限公司、泰州石墨烯研究检测平台有限公司、东南大学、南京大学、电子科技大学（深圳）高等研究院、清华大学、江南大学、贵州金特磨削科技开发有限公司、福建翔丰华新能源材料有限公司、北京石墨烯研究院有限公司、北京孵烯检测认证有限公司、欣旺达电子股份有限公司。

主要起草人王浩敏、丁荣、吕俊鹏、谢晓明、王慧山、孔自强、陈晨、陈谷一、袁文军、王兰兰、方崇卿、邵悦、倪振华、王欣然、李雪松、王琛、肖少庆、张豪、宋宏芳、许莉、干静、洪江彬、陈敏、严春伟。

基础信息

标准号：GB/T 43682-2024发布日期：2024-03-15实施日期：2024-07-01标准类别：方法中国标准分类号：A42国际标准分类号：71.040.50 归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会主管部门：中国科学院

起草单位

泰州巨纳新能源有限公司上海巨纳科技有限公司厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司泰州石墨烯研究检测平台有限公司南京大学清华大学贵州金特磨削科技开发有限公司北京石墨烯研究院有限公司欣旺达电子股份有限公司中国科学院上海微系统与信息技术研究所烯旺新材料科技股份有限公司泰州飞荣达新材料科技有限公司东南大学电子科技大学（深圳）高等研究院江南大学福建翔丰华新能源材料有限公司北京孵烯检测认证有限公司

起草人

王浩敏丁荣王慧山孔自强袁文军王兰兰倪振华王欣然肖少庆张豪干静洪江彬吕俊鹏谢晓明陈晨陈谷一方崇卿邵悦李雪松王琛宋宏芳许莉陈敏严春伟

相近标准(计划)

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