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Nanotechnologies—Description, measurement and dimensional quality parameters of gratings
国家标准《纳米技术 光栅的描述、测量和尺寸质量参数》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。
主要起草单位中国计量科学研究院、北京大学、清华大学、苏州苏大维格科技集团股份有限公司、广纳四维(广东)光电科技有限公司。
主要起草人李伟 、李适 、朱振东 、李群庆 、陈林森 、李晓军 、高思田 、李琪 、施玉书 、黄鹭 、史瑞 、乔文 、华鉴瑜 。
标准号:GB/Z 43684-2024发布日期:2024-03-15实施日期:2024-10-01标准类别:方法中国标准分类号:L04国际标准分类号:07.120 归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会执行单位:全国纳米技术标准化技术委员会主管部门:中国科学院
本标准等同采用IEC国际标准:IEC TS 62622:2012。采标中文名称:纳米技术 人造光栅的描述,测量和尺寸质量参数。
中国计量科学研究院清华大学广纳四维(广东)光电科技有限公司北京大学苏州苏大维格科技集团股份有限公司
李伟李适陈林森李晓军施玉书黄鹭华鉴瑜朱振东李群庆高思田李琪史瑞乔文
20240660-T-491 纳米技术 外泌体形貌和尺寸测量 原子力显微术GB/T 44234-2024 纳米技术 纳米材料与气体表界面作用热力学参数和动力学参数测量 谐振微质量法GB/T 5373-2019 摩托车和轻便摩托车尺寸和质量参数的测定方法GB/T 21153-2007 土方机械尺寸、性能和参数的单位与测量准确度GB/T 15972.20-2021 光纤试验方法规范第20部分:尺寸参数的测量方法和试验程序光纤几何参数GB/T 15972.21-2008 光纤试验方法规范第21部分:尺寸参数的测量方法和试验程序涂覆层几何参数JB/T 10080.1-2011 光栅线位移测量系统 第1部分:光栅数字显示仪表SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算JB/T 10080.2-2011 光栅线位移测量系统 第2部分:光栅线位移传感器HJ/T 1-1992 气体参数测量和采样的固定位装置
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严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。
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服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
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