GB/T 43087-2023《微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法》

Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

国家标准《微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。

主要起草单位北京科技大学。

主要起草人权茂华、柳得橹。

基础信息

标准号：GB/T 43087-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-04-01标准类别：方法中国标准分类号：N33国际标准分类号：71.040.50 归口单位：全国微束分析标准化技术委员会执行单位：全国微束分析标准化技术委员会主管部门：国家标准委

采标情况

本标准修改采用ISO国际标准：ISO 20263:2017。采标中文名称:微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法。

起草单位

北京科技大学

起草人

权茂华柳得橹

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