GB/T 42975-2023《半导体集成电路驱动器测试方法》

Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device

国家标准《半导体集成电路驱动器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司。

主要起草人刘芳、周俊、杨晓强、纵雷、刘凡、霍玉柱、林瑜攀、陆坚、梁希、王会影。

基础信息

标准号：GB/T 42975-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

中国电子技术标准化研究院安徽大华半导体科技有限公司广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所中国电子科技集团公司第二十四研究所中国电子科技集团公司第十三研究所中国电子科技集团公司第五十八研究所成都振芯科技股份有限公司

起草人

刘芳周俊刘凡霍玉柱梁希王会影杨晓强纵雷林瑜攀陆坚

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