GB/T 43226-2023《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》

Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准委。

主要起草单位北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。

主要起草人赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁。

基础信息

标准号：GB/T 43226-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01标准类别：方法中国标准分类号：V25国际标准分类号：49.140 归口单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会执行单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会主管部门：国家标准委

起草单位

北京微电子技术研究所中国航天电子技术研究院

起草人

赵元富陈雷郑宏超李哲陈淼王汉宁王亮岳素格林建京李永峰

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