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国家标准

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GB/T 15651.6-2023《半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管》

Semiconductor devices—Part 5-6: Optoelectronic devices—Light emitting diodes

国家标准《半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管》由339-1(工业和信息化部(电子))归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、国家半导体器件质量检验检测中心、中国电子技术标准化研究院、深圳市标准技术研究院、晶能光电(江西)有限公司、山东浪潮华光光电子股份有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、华南理工大学、福建鸿博光电科技有限公司、广州赛西标准检测研究院有限公司、北京集创北方科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司。

主要起草人刘东月 、黄杰 、赵敏 、刘秀娟 、赵涛 、胡轶 、王成新 、吕天刚 、李宗涛 、陈庆美 、吴杜雄 、樊磊 、茹志芹 、赵莉红 、刘芳 、李长普 、赵鹏 。

基础信息

标准号:GB/T 15651.6-2023发布日期:2023-09-07实施日期:2024-04-01标准类别:产品中国标准分类号:L53国际标准分类号:31.080.99 归口单位:工业和信息化部(电子)执行单位:工业和信息化部(电子)主管部门:工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60747-5-6:2021。采标中文名称:半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所中国电子技术标准化研究院晶能光电(江西)有限公司鸿利智汇集团股份有限公司福建鸿博光电科技有限公司北京集创北方科技股份有限公司国家半导体器件质量检验检测中心深圳市标准技术研究院山东浪潮华光光电子股份有限公司华南理工大学广州赛西标准检测研究院有限公司河北中电科航检测技术服务有限公司

起草人

刘东月黄杰赵涛胡轶李宗涛陈庆美茹志芹赵莉红赵鹏赵敏刘秀娟王成新吕天刚吴杜雄樊磊刘芳李长普

相近标准(计划)

20231206-T-339 半导体器件 第5-8部分:光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法20231205-T-339 半导体器件 第5-11部分:光电子器件 发光二极管 辐射和非辐射电流的测试方法20231209-T-339 半导体器件 第5-10部分:光电子器件 发光二极管 基于室温参考的内部量子效率的测试方法20231207-T-339 半导体器件 第5-9部分: 光电子器件 发光二极管 基于温度相关的电致发光内量子效率测试方法20233683-T-339 半导体器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器GB/T 18904.3-2002 半导体器件第12-3部分:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范20231204-T-339 半导体器件 第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件20221732-T-339 激光显示器件 第5-6部分:投影屏幕光学性能测试方法20201543-T-339 半导体器件分立器件第15部分:绝缘功率半导体器件

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