GB/T 1555-2023《半导体单晶晶向测定方法》

Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal

国家标准《半导体单晶晶向测定方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。

主要起草单位中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、有研国晶辉新材料有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司、云南驰宏国际锗业有限公司、北京通美晶体技术股份有限公司、浙江旭盛电子有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、丹东新东方晶体仪器有限公司、国标（北京）检验认证有限公司、新美光（苏州）半导体科技有限公司。

主要起草人许蓉、刘立娜、李素青、庞越、马春喜、张海英、林泉、尚鹏、麻皓月、潘金平、廖吉伟、崔丁方、任殿胜、王元立、陈跃骅、孙聂枫、赵松彬、王书明、李晓岚、史艳磊、赵丽丽、夏秋良。

基础信息

标准号：GB/T 1555-2023发布日期：2023-08-06实施日期：2024-03-01全部代替标准：GB/T 1555-2009标准类别：方法中国标准分类号：H21国际标准分类号：77.040 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委

起草单位

中国电子科技集团公司第四十六研究所浙江金瑞泓科技股份有限公司浙江海纳半导体股份有限公司云南驰宏国际锗业有限公司浙江旭盛电子有限公司丹东新东方晶体仪器有限公司新美光（苏州）半导体科技有限公司有色金属技术经济研究院有限责任公司有研国晶辉新材料有限公司哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司北京通美晶体技术股份有限公司中国电子科技集团公司第十三研究所国标（北京）检验认证有限公司

起草人

许蓉刘立娜马春喜张海英麻皓月潘金平任殿胜王元立赵松彬王书明赵丽丽夏秋良李素青庞越林泉尚鹏廖吉伟崔丁方陈跃骅孙聂枫李晓岚史艳磊

相近标准(计划)

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