GB/T 42838-2023《半导体集成电路霍尔电路测试方法》

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

国家标准《半导体集成电路霍尔电路测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司。

主要起草人尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广。

基础信息

标准号：GB/T 42838-2023发布日期：2023-08-06实施日期：2023-12-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

中国电子技术标准化研究院合肥美菱物联科技有限公司东莞市国梦电机有限公司南京中旭电子科技有限公司北京微电子技术研究所

起草人

尹航刘芳张帆刘德广何万海唐食明

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