GB/T 42706.2-2023《电子元器件半导体器件长期贮存第2部分：退化机理》

Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 2：Deterioration mechanisms

国家标准《电子元器件半导体器件长期贮存第2部分：退化机理》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州华宇电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、深圳市标准技术研究院、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司、武汉格物芯科技有限公司、惠州市特创电子科技股份有限公司、佛山市毅丰电器实业有限公司。

主要起草人刘玮、石东升、晋李华、彭勇、闫萌、张鑫、彭浩、崔波、魏兵、赵鹏、麦日容、徐昕、米村艳、何黎、陈金星、吴卫斌。

基础信息

标准号：GB/T 42706.2-2023发布日期：2023-05-23实施日期：2023-09-01标准类别：基础中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.020 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62435-2:2017。采标中文名称:电子元器件半导体器件长期贮存第2部分：退化机理。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所池州华宇电子科技有限公司深圳市标准技术研究院绵阳迈可微检测技术有限公司惠州市特创电子科技股份有限公司河北北芯半导体科技有限公司河北中电科航检测技术服务有限公司北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司武汉格物芯科技有限公司佛山市毅丰电器实业有限公司

起草人

刘玮石东升闫萌张鑫魏兵赵鹏米村艳何黎晋李华彭勇彭浩崔波麦日容徐昕陈金星吴卫斌

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