GB/T 4937.27-2023《半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM）》

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing—Machine model(MM)

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽高芯众科半导体有限公司、武汉格物芯科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司。

主要起草人迟雷、高金环、高蕾、辛长林、彭浩、张瑞霞、黄杰、何黎、赵鹏、魏兵、刘洪刚、颜天宝、王介。

基础信息

标准号：GB/T 4937.27-2023发布日期：2023-05-23实施日期：2023-12-01标准类别：方法中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.080.01 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-27:2012。采标中文名称:半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM）。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所安徽高芯众科半导体有限公司河北中电科航检测技术服务有限公司广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司河北北芯半导体科技有限公司武汉格物芯科技有限公司佛山市川东磁电股份有限公司

起草人

迟雷高金环彭浩张瑞霞赵鹏魏兵王介高蕾辛长林黄杰何黎刘洪刚颜天宝

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