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156-0036-6678
Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
国家标准《CMOS集成电路抗辐射加固设计要求》由TC425(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准委。
主要起草单位中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所。
主要起草人刘智 、葛梅 、谢成民 、王斌 、岳红菊 、于洪波 、姚思远 、李海松 、耿增建 、胡巧玉 。
标准号:GB/T 41033-2021发布日期:2021-12-31实施日期:2022-07-01标准类别:方法中国标准分类号:V29国际标准分类号:49.035 归口单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会执行单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会主管部门:国家标准委
中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所
刘智葛梅岳红菊于洪波耿增建胡巧玉谢成民王斌姚思远李海松
GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法SJ/T 10038-1991 半导体集成电路CMOS4000系列运算器SJ/T 10254-1991 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范SJ/T 10039-1991 半导体集成电路CMOS4000系列译码器SJ/T 10041-1991 半导体集成电路CMOS4000系列移位寄存器SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T 10253-1991 半导体集成电路CC4046型CMOS数字锁相环详细规范SJ/T 10252-1991 半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器详细规范SJ/T 10428-1993 54/74HC、54/74HCT、54/74HCV系列高速CMOS数字集成电路空白详细规范
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微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
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提供精准的数据支持,建立了完善的数据管理系统,对每个检测项目数据进行详细记录与归档,以便随时查阅追溯。
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独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
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