GB/T 22586-2008《高温超导薄膜微波表面电阻测试》

Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film

国家标准《高温超导薄膜微波表面电阻测试》由TC265（全国超导标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。

主要起草单位电子科技大学、清华大学、南京大学等。

主要起草人罗正祥、刘宜平、李宏成等。

基础信息

标准号：GB/T 22586-2008发布日期：2008-12-15实施日期：2009-05-01废止日期：2018-10-01标准类别：方法中国标准分类号：H21国际标准分类号：77.040.99 归口单位：全国超导标准化技术委员会执行单位：全国超导标准化技术委员会主管部门：中国科学院

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 61788-7:2006。采标中文名称:电子性能测量微波频率下超导体的表面电阻。

起草单位

电子科技大学南京大学等清华大学

起草人

罗正祥刘宜平李宏成

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