GB/T 4937.30-2018《半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理》

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市标准技术研究院。

主要起草人裴选、彭浩、高瑞鑫、高金环、刘玮。

基础信息

标准号：GB/T 4937.30-2018发布日期：2018-09-17实施日期：2019-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.080.01 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-30:2011。采标中文名称:半导体器件机械和气候试验方法第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所深圳市标准技术研究院

起草人

裴选彭浩刘玮高瑞鑫高金环

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