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156-0036-6678
Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for lower power light-emitting diodes
国家标准《半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范》由339-1(工业和信息化部(电子))归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、国家半导体器件质量监督检验中心、中国电子技术标准化研究院。
主要起草人张瑞霞 、赵敏 、黄杰 、彭浩 、赵英 、刘秀娟 、张晨朝 、刘东月 。
标准号:GB/T 36359-2018发布日期:2018-06-07实施日期:2019-01-01标准类别:产品中国标准分类号:L53国际标准分类号:31.260 归口单位:工业和信息化部(电子)执行单位:工业和信息化部(电子)主管部门:工业和信息化部(电子)
中国电子科技集团公司第十三研究所中国电子技术标准化研究院国家半导体器件质量监督检验中心
张瑞霞赵敏赵英刘秀娟黄杰彭浩张晨朝刘东月
SJ/T 11400-2009 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范SJ/T 11393-2009 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范GB/T 36360-2018 半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范GB/T 36358-2018 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范SJ/T 11817-2022 半导体光电子器件 灯丝灯用发光二极管空白详细规范SJ/T 11866-2022 半导体光电子器件 硅衬底白光功率发光二极管详细规范20233716-T-339 半导体分立器件 小功率双极型晶体管空白详细规范20233689-T-339 半导体分立器件 大功率双极型晶体管空白详细规范GB/T 18904.3-2002 半导体器件第12-3部分:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范20231206-T-339 半导体器件 第5-8部分:光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法
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CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
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数据严谨精准
提供精准的数据支持,建立了完善的数据管理系统,对每个检测项目数据进行详细记录与归档,以便随时查阅追溯。
立场
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据严谨精准
提供精准的数据支持,建立了完善的数据管理系统,对每个检测项目数据进行详细记录与归档,以便随时查阅追溯。
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
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