GB/T 33657-2017《纳米技术晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范》

Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells

国家标准《纳米技术晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。

主要起草单位中国科学院上海微系统与信息技术研究所。

主要起草人陈一峰、陈小刚、宋志棠。

基础信息

标准号：GB/T 33657-2017发布日期：2017-05-12实施日期：2017-12-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会主管部门：中国科学院

起草单位

中国科学院上海微系统与信息技术研究所

起草人

陈一峰陈小刚宋志棠

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