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156-0036-6678
General specification test methods for semiconductor device curve tracers
国家标准《半导体管特性图示仪通用规范》由TC153(全国电子测量仪器标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位上海新建仪器设备有限公司。
主要起草人吴宗苏 、徐正江 、朱佩华 、徐长风 、俞见逸 。
标准号:GB/T 13973-2012发布日期:2012-12-31实施日期:2013-06-01全部代替标准:GB/T 13974-1992,GB/T 13973-1992标准类别:产品中国标准分类号:L85国际标准分类号:17.220 归口单位:全国电子测量仪器标准化技术委员会执行单位:全国电子测量仪器标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)
上海新建仪器设备有限公司
吴宗苏徐正江俞见逸朱佩华徐长风
SJ/T 11777-2021 半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法SJ/T 10229-1991 XJ4810半导体管特性图示仪JY/T 0006-2011 晶体管特性图示仪DB13/T 5293-2020 半导体特性图示仪维修规范20233716-T-339 半导体分立器件 小功率双极型晶体管空白详细规范SJ/T 10438-1993 双极型晶体管直流参数测试仪通用技术条件20233689-T-339 半导体分立器件 大功率双极型晶体管空白详细规范20213170-T-339 半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验20064065-T-339 半导体器件第7部分:双极型晶体管20213176-T-339 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的可动离子试验
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微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
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严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。
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服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
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