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The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
国家标准《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国科学院上海技术物理研究所。
标准号：GB/T 17444-1998发布日期：1998-07-30实施日期：1999-05-01废止日期：2014-04-15标准类别：基础中国标准分类号：L52国际标准分类号：31.260 归口单位：工业和信息化部（电子）执行单位：工业和信息化部（电子）主管部门：工业和信息化部（电子）
中国科学院上海技术物理研究所
GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法DL/T 2554-2022 接地装置短路暂态特性参数测试导则DL／T 266-2023 接地装置冲击特性参数测试导则DL/T 266-2012 接地装置冲击特性参数测试导则SY/T 5585.1-1993 地震数传电缆电参数测试方法特性阻抗和传播时间测试特性抗阻和传播时间测试GB/T 13584-2011 红外探测器参数测试方法GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法SY/T 5585.3-1993 地震数传电缆电参数测试方法特性阻抗和传播时间测试串音衰减测试SY/T 5585.2-1993 地震数传电缆电参数测试方法特性阻抗和传播时间测试 工作衰减测试20242288-T-491 等离子体参数测试方法
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CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
立场
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
CMA检测资质
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