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Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位中国科学院上海技术物理研究所。
主要起草人丁瑞军 、梁平治 、唐红兰 、陈洪雷 、曹妩媚 、殷建军等 。
标准号:GB/T 17444-2013发布日期:2013-11-12实施日期:2014-04-15全部代替标准:GB/T 17444-1998标准类别:方法中国标准分类号:L52国际标准分类号:31.260 归口单位:工业和信息化部(电子)执行单位:工业和信息化部(电子)主管部门:工业和信息化部(电子)
中国科学院上海技术物理研究所
丁瑞军梁平治曹妩媚殷建军唐红兰陈洪雷
GB/T 13584-2011 红外探测器参数测试方法GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法20242288-T-491 等离子体参数测试方法20231880-T-339 电容式指纹采集芯片参数测试方法GB/T 36403-2018 红外光学玻璃红外透过率测试方法 傅里叶变换法GB/T 34184-2017 红外光学玻璃红外折射率测试方法 偏折角法GB/T 42657-2023 红外光学玻璃红外折射率温度系数测试方法 垂直入射法NB/T 10308-2019 电热元件用红外温度场分布测试方法NBT 11697-2024 干热岩力学参数实验测试方法JT/T 1329-2020 SBS改性沥青改性剂含量测试方法 红外光谱法
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微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
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提供精准的数据支持,建立了完善的数据管理系统,对每个检测项目数据进行详细记录与归档,以便随时查阅追溯。
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严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
CMA检测资质
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独立公正立场
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