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156-0036-6678
Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials
国家标准《非本征半导体材料导电类型测试方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准委。
主要起草单位峨嵋半导体材料厂。
标准号:GB/T 1550-1997发布日期:1997-06-03实施日期:1997-12-01废止日期:2019-11-01全部代替标准:GB 5256-1985,GB 1550-1979标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040.01 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委
本标准等效采用ITU国际标准:ASTM F42:1988。采标中文名称:。
峨嵋半导体材料厂
GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法20233951-T-610 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法YS/T 679-2018 非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试表面光电压法GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法20242763-T-906 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法SJ/T 11792-2022 锂离子电池电极材料导电性测试方法JB/T 13537-2018 电磁屏蔽用导电粉体体积电阻率测试方法GB/T 15662-1995 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法20231782-T-339 半导体器件 微电子机械器件 第22部分:柔性衬底导电薄膜机电拉伸测试方法
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严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。
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服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
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