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156-0036-6678
Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
国家标准《非本征半导体材料导电类型测试方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准委。
主要起草单位乐山市产品质量监督检验所、中国计量科学研究院、广州市昆德科技有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、浙江海纳半导体有限公司、新特能源股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、峨嵋半导体材料研究所、洛阳中硅高科技有限公司、中锗科技有限公司、云南冶金云芯硅材股份有限公司、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、北京合能阳光新能源技术有限公司。
主要起草人梁洪 、王莹 、赵晓斌 、高英 、王昕 、王飞尧 、黄黎 、徐红骞 、邱艳梅 、刘晓霞 、杨旭 、张园园 、刘新军 、徐远志 、程小娟 、潘金平 、肖宗杰 。
标准号:GB/T 1550-2018发布日期:2018-12-28实施日期:2019-11-01全部代替标准:GB/T 1550-1997标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委
乐山市产品质量监督检验所广州市昆德科技有限公司浙江海纳半导体有限公司江苏中能硅业科技发展有限公司洛阳中硅高科技有限公司云南冶金云芯硅材股份有限公司北京合能阳光新能源技术有限公司中国计量科学研究院瑟米莱伯贸易(上海)有限公司新特能源股份有限公司峨嵋半导体材料研究所中锗科技有限公司江西赛维LDK太阳能高科技有限公司
梁洪王莹王昕王飞尧邱艳梅刘晓霞刘新军徐远志肖宗杰赵晓斌高英黄黎徐红骞杨旭张园园程小娟潘金平
YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法20233951-T-610 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法YS/T 679-2018 非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试表面光电压法GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法20242763-T-906 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法SJ/T 11792-2022 锂离子电池电极材料导电性测试方法JB/T 13537-2018 电磁屏蔽用导电粉体体积电阻率测试方法GB/T 15662-1995 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法20231782-T-339 半导体器件 微电子机械器件 第22部分:柔性衬底导电薄膜机电拉伸测试方法GB/T 32791-2016 铜及铜合金导电率涡流测试方法
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微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
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严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。
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服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
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