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Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位机械电子工业部46所和4所。
标准号：GB/T 14863-1993发布日期：1993-12-30实施日期：1994-10-01废止日期：2014-08-15标准类别：方法中国标准分类号：L41归口单位：工业和信息化部（电子）执行单位：工业和信息化部（电子）主管部门：工业和信息化部（电子）
机械电子工业部46所和4所
GB/T 14146-2021 硅外延层载流子浓度的测试电容-电压法GB/T 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法20233915-T-469 隔离栅20240533-T-610 蓄电池板栅用铅合金锭GB/T 30241.2-2013 齐纳二极管安全栅第2部分：性能评定方法JT/T 848-2013 公路用复合隔离栅立柱GB/T 19247.6-2024 印制板组装第6部分:球栅阵列（BGA）和盘栅阵列（LGA）焊点空洞的评估要求及测试方法YS/T 915-2013 蓄电池板栅用铅锑合金锭YS/T 14-2015 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法20250731-T-469 碳化硅外延层载流子寿命的测试 瞬态吸收法
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严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
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服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
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