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Semiconductor integrated circuits—Measuring methods for RF transmitter/receiver
国家标准《半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位中国电子科技集团公司第二十四研究所、重庆西南集成电路设计有限责任公司、中国电子科技集团公司第十四研究所、中国电子科技集团公司第三十八研究所、成都振芯科技股份有限公司、深圳市晶峰晶体科技有限公司。
主要起草人苏良勇 、王露 、唐景磊 、阳润 、戚园 、刘丹 、许娟 、苏巧 、陈翔 、刘晓政 、范超 、高青 。
标准号:GB/T 44924-2024发布日期:2024-12-31实施日期:2025-04-01标准类别:方法中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)
中国电子科技集团公司第二十四研究所中国电子科技集团公司第十四研究所成都振芯科技股份有限公司重庆西南集成电路设计有限责任公司中国电子科技集团公司第三十八研究所深圳市晶峰晶体科技有限公司
苏良勇王露戚园刘丹陈翔刘晓政唐景磊阳润许娟苏巧范超高青
20242556-T-339 半导体集成电路 嵌入式存储器测试方法SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理JB/T 5580-1991 半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
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微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
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提供精准的数据支持,建立了完善的数据管理系统,对每个检测项目数据进行详细记录与归档,以便随时查阅追溯。
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严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
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微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据严谨精准
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独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。
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服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
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