GB/T 43034.2-2024《集成电路脉冲抗扰度测量第2部分: 同步瞬态注入法》

Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 2: Synchronous transient injection method

国家标准《集成电路脉冲抗扰度测量第2部分: 同步瞬态注入法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、苏州泰思特电子科技有限公司、南京容测检测技术有限公司、浙江诺益科技有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、国家无线电监测中心检测中心、中国家用电器研究院、中国信息通信研究院、南京师范大学、东莞职业技术学院。

主要起草人付君、崔强、方文啸、吴建飞、张海峰、张艳艳、莫国延、李旸、梁吉明、胡小军、邢立文、郑益民、杨红波、董奇峰、熊宇飞、颜伟、褚瑞、康志能、魏海红、陈梅双。

基础信息

标准号：GB/T 43034.2-2024发布日期：2024-10-26实施日期：2024-10-26标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC TS 62215-2:2007。采标中文名称:集成电路脉冲抗扰度测量第2部分: 同步瞬态注入法。

起草单位

中国电子技术标准化研究院安徽中认倍佳科技有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司北京智芯微电子科技有限公司南京容测检测技术有限公司扬芯科技（深圳）有限公司中国家用电器研究院南京师范大学深圳市北测标准技术服务有限公司工业和信息化部电子第五研究所天津先进技术研究院苏州泰思特电子科技有限公司浙江诺益科技有限公司国家无线电监测中心检测中心中国信息通信研究院东莞职业技术学院

起草人

付君崔强张海峰张艳艳梁吉明胡小军杨红波董奇峰褚瑞康志能方文啸吴建飞莫国延李旸邢立文郑益民熊宇飞颜伟魏海红陈梅双

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