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Semiconductor integrated circuits—Flash memory(FLASH)
国家标准《半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位中国电子技术标准化研究院、兆易创新科技集团股份有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、存心科技(北京)有限公司、芯天下技术股份有限公司、三旗(惠州)电子科技有限公司。
主要起草人罗晓羽 、何卫 、辛钧 、胡洪 、苏志强 、李东琦 、韩旭 、龙冬庆 、张静 、李柏泉 、王如松 、李敬 、李海龙 。
标准号:GB/T 42974-2023发布日期:2023-09-07实施日期:2024-01-01标准类别:产品中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)
中国电子技术标准化研究院合肥美菱物联科技有限公司芯天下技术股份有限公司兆易创新科技集团股份有限公司存心科技(北京)有限公司三旗(惠州)电子科技有限公司
罗晓羽何卫苏志强李东琦张静李柏泉李海龙辛钧胡洪韩旭龙冬庆王如松李敬
GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法GB/T 35008-2018 串行NOR型快闪存储器接口规范GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范20242554-T-339 半导体集成电路 嵌入式存储器接口要求20242556-T-339 半导体集成电路 嵌入式存储器测试方法SJ/T 11701-2018 通用NAND型快闪存储器接口20242042-T-469 NAND 型闪存存储器寿命试验方法20233686-T-339 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路 第八篇:集成电路静态读/写存储器空白详细规范GB/T 6648-1986 半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用)GB/T 17574.10-2003 半导体器件集成电路第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
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服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
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