GB/T 36477-2018《半导体集成电路快闪存储器测试方法》

Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

国家标准《半导体集成电路快闪存储器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司。

主要起草人菅端端、陈大为、钟明琛、罗晓羽、冯光涛、倪昊、赵子鉴、董艺、田万廷、高硕、闵昊、刘刚。

基础信息

标准号：GB/T 36477-2018发布日期：2018-06-07实施日期：2019-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

中国电子技术标准化研究院上海复旦微电子集团股份有限公司北京兆易创新科技股份有限公司中兴通讯股份有限公司中芯国际集成电路制造（上海）有限公司深圳市中兴微电子技术有限公司复旦大学

起草人

菅端端陈大为冯光涛倪昊田万廷高硕钟明琛罗晓羽赵子鉴董艺闵昊刘刚

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