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Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准》由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。
主要起草单位中山大学。
主要起草人陈建 、谢方艳 、龚力 、杨慕紫 、杨皓 、张浩 、张卫红 。
标准号:GB/T 40129-2021发布日期:2021-05-21实施日期:2021-12-01标准类别:方法中国标准分类号:G04国际标准分类号:71.040.40 归口单位:全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位:全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门:中国科学院
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 13084:2018。采标中文名称:表面化学分析二次离子质谱飞行时间二次离子质谱仪质量标校准。
中山大学
陈建谢方艳杨皓张浩龚力杨慕紫张卫红
20232366-T-469 表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性GB/T 43663-2024 表面化学分析 二次离子质谱 静态二次离子质谱相对强度标的重复性和一致性20232769-T-469 表面化学分析二次离子质谱用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度GB/T 25186-2010 表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法GB/T 32495-2016 表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法YY/T 1740.2-2021 医用质谱仪 第2部分:基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法GB/T 20176-2006 表面化学分析二次离子质谱用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度GB/T 22572-2008 表面化学分析二次离子质谱用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
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新能源汽车电机控制器EMC测试与电磁兼容认证之间的关系是什么
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