GB/T 36655-2018《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》

Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method

国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC3（全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会）执行，主管部门为国家标准委。

主要起草单位国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司。

主要起草人封丽娟、李冰、陈进、夏永生、曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪。

基础信息

标准号：GB/T 36655-2018发布日期：2018-09-17实施日期：2019-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L90国际标准分类号：31.030 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会主管部门：国家标准委

起草单位

国家硅材料深加工产品质量监督检验中心汉高华威电子有限公司江苏联瑞新材料股份有限公司

起草人

封丽娟李冰曹家凯吕福发陈进夏永生阮建军王松宪

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