GB/T 35007-2018《半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法》

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

国家标准《半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。

主要起草人陈雁、罗彬、郭超、王会影、李锟、蔡志刚、邬海忠、钟科。

基础信息

标准号：GB/T 35007-2018发布日期：2018-03-15实施日期：2018-08-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

成都振芯科技股份有限公司工业和信息化部电子第五研究所深圳市众志联合电子有限公司工业和信息化部电子工业标准化研究院深圳市国微电子有限公司中国电子科技集团公司第二十九研究所

起草人

陈雁罗彬李锟蔡志刚郭超王会影邬海忠钟科

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