GB/T 35006-2018《半导体集成电路电平转换器测试方法》

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

国家标准《半导体集成电路电平转换器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信息化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司。

主要起草人宦承永、邬海忠、陆坚、魏军、王小强、罗彬。

基础信息

标准号：GB/T 35006-2018发布日期：2018-03-15实施日期：2018-08-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

深圳市国微电子有限公司工业和信息化部电子第五研究所中国电子科技集团公司第五十八研究所成都振芯科技股份有限公司

起草人

宦承永邬海忠王小强罗彬陆坚魏军

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