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Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
国家标准《太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准委。
主要起草单位江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、有研半导体材料股份有限公司。
主要起草人薛抗美 、夏根平 、孙燕 、林清香 、徐自亮 、黄黎 。
标准号:GB/T 30859-2014发布日期:2014-07-24实施日期:2015-04-01标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委
江苏协鑫硅材料科技发展有限公司有研半导体材料股份有限公司瑟米莱伯贸易(上海)有限公司
薛抗美夏根平徐自亮黄黎孙燕林清香
SJ/T 11630-2016 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法SJ/T 11628-2016 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法SJ/T 11629-2016 太阳能电池用硅片和电池片的在线光致发光分析方法JC/T 2065-2011 太阳能电池硅片用石英舟GB/T 32280-2022 硅片翘曲度和弯曲度的测试自动非接触扫描法
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微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
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服务
服务领域广泛
服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。
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